- Locality
- Madrid (Madrid)
Microscopía electrónica de transmisión (JEOL 2100) equipado con detector EDX ULTIMAX, Oxford.
Microscopio de fuerza atómica, Multimode 8 Bruker, equipado con el controlador Nanoscope V.
Microscopio óptico con luz polarizada, NIKON EclipseE600POL, equipado con placa calefactora Mettler FP82HT.
Cromatografia SEC-4T y SLS/ DLS en fase acuosa.
Calorimetría diferencial de barrido a baja temperatura.
Espectroscopia ATR-FTIR para polimeros y biopolimeros.
Medidas de angulo de contacto superficial.
Espectroscopia dieléctrica.
Análisis reológico en los modos de torsión y extensión (DHR20, TA Instruments) y capilar (SMART RHEO, CEAST).
Microrreologia DLS, Zetasizer Malvern Panalytical.
Microfluidica de cizalla y extensión, m-VROC II RheoSense.
Dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS), Nanostar C (entre 20ºC y 300ºC).
Asesoramiento en modelos atomísticos, de grano grueso y en la mesoescala en química, biología y ciencias de materiales.
- Análisis reológico
- Calorimetría diferencial de barrido de baja temperatura
- Caracterización dieléctrica
- Caracterización estructura: Microscopía optica
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Consultoría científica en modelización, computación y simulación
- Cromatografía de exclusión por tamaños, SEC
- Determinación de la viscosidad
- Determinación de ángulo de contacto en superficie
- Dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS)
- Espectroscopia de infrarrojo medio (FTIR)
- Liofilización
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Uso de cámara / cabina / campana de atmósferas controladas o modificadas